[发明专利]玻璃裂纹检查系统及方法在审
| 申请号： | 201810670013.8 | 申请日： | 2018-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN110646432A | 公开（公告）日： | 2020-01-03 |
| 发明（设计）人： | 郑保赫;李锡烨 | 申请（专利权）人： | CVI株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李盛泉;孙昌浩 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种玻璃缺陷检查系统及方法，在检查连续移送的玻璃基板的缺陷的玻璃缺陷检查系统中，包括：适配器，玻璃基板沿特定方向出入，并且在上部面与下部面相对的位置形成有可实现光透视的视口，且为长方体形态；一个以上的LED光源，位于所述适配器的上部面或下部面的视口，并向适配器内玻璃基板方向照射光；两个以上的相机，位于所述适配器的上部面，拍摄适配器内玻璃基板的影像；以及检查部，接收在所述相机拍摄的玻璃基板的影像信息而检测玻璃基板的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 适配器 玻璃基板 上部面 玻璃缺陷 检查系统 内玻璃 视口 玻璃基板沿 方向出入 基板方向 相机拍摄 影像信息 照射光 基板 相机 影像 检查 透视 拍摄 检测 | ||
【主权项】：
1.一种玻璃缺陷检查系统，是检查连续移送的玻璃基板的缺陷的玻璃缺陷检查系统，其特征在于，包括：/n适配器，玻璃基板沿特定方向出入，并且在上部面形成有可实现光透视的视口；/n一个以上的同轴照明，为了向所述适配器内玻璃基板方向照射光，位于适配器上部面视口上部；/n两个以上的相机，位于所述适配器的上部面，以设定的分辨率拍摄适配器内玻璃基板的影像；以及/n检查部，接收由所述相机拍摄的玻璃基板的影像信息而检测玻璃基板的缺陷，/n其中，所述相机根据设定的分辨率和所述玻璃基板出入适配器的移送速度进行选择。/n
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