[发明专利]基于卷积编码器和闵式距离的行星齿轮箱故障检测方法在审
| 申请号： | 201810653611.4 | 申请日： | 2018-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN108844735A | 公开（公告）日： | 2018-11-20 |
| 发明（设计）人： | 李东东;王浩;华伟;赵耀;杨帆;林顺富 | 申请（专利权）人： | 上海电力学院 |
| 主分类号： | G01M13/02 | 分类号： | G01M13/02 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 丁云 |
| 地址： | 200090 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于卷积编码器和闵式距离的行星齿轮箱故障检测方法，该方法包括如下步骤：(1)获取行星齿轮箱振动信号；(2)将行星齿轮箱振动信号输入至预先训练的特征提取模型，所述的特征提取模型为一维卷积编码器；(3)特征提取模型提取故障特征向量，求取故障特征向量与已知故障类别特征向量的闵式距离，根据闵式距离大小获取故障类型。与现有技术相比，本发明可以达到很高的诊断精确度，并且该方法能够适应实时性的需要，具有良好的实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 行星齿轮箱 特征提取模型 故障特征向量 卷积编码器 故障检测 振动信号 故障类别 故障类型 特征向量 一维卷积 编码器 实时性 诊断 | ||
【主权项】：
1.一种基于卷积编码器和闵式距离的行星齿轮箱故障检测方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：(1)获取行星齿轮箱振动信号；(2)将行星齿轮箱振动信号输入至预先训练的特征提取模型，所述的特征提取模型为一维卷积编码器；(3)特征提取模型提取故障特征向量，求取故障特征向量与已知故障类别特征向量的闵式距离，根据闵式距离大小获取故障类型。
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