[发明专利]遵循公差相关要求的被测要素检验公差带计算方法有效

专利信息
申请号: 201810649338.8 申请日: 2018-06-22
公开(公告)号: CN108984850B 公开(公告)日: 2022-12-23
发明(设计)人: 吴玉光;王伟 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: G06F17/10 分类号: G06F17/10;G06F30/20
代理公司: 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 代理人: 周希良
地址: 310018 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提出一种三基准体系下两宽度要素基准组合遵循公差相关要求的被测要素检验公差带计算方法,包括:S1,对全部基准要素分别建立D_DFS和M_DFS;S2,根据所述D_DFS构件建立设计坐标系,根据所述M_DFS构件建立测量坐标系;S3,根据D_DFS构件和M_DFS构件装配后存在的相对运动建立设计坐标系和测量坐标系的相对运动关系;根据所述相对运动关系,定义转移公差和被测要素检验公差带;S4,采用双滑块和摆杆机构的串联组合表示设计坐标系相对于测量坐标系的最大相对运动关系,根据双滑块和摆杆机构的结构参数和性能参数,计算所述被测要素检验公差带。本发明所述方法适用于多个基准遵循公差相关要求的转移公差的计算,具有较高的理论意义和使用价值。
搜索关键词: 遵循 公差 相关 要求 要素 检验 计算方法
【主权项】:
1.三基准体系下两宽度要素基准组合遵循公差相关要求的被测要素检验公差带计算方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,对全部基准要素分别建立D_DFS和M_DFS;所述全部基准要素由一个平面要素和两个宽度要素组成,且所述宽度要素其中心平面垂直于平面要素,两个宽度要素互不平行且遵循公差相关要求,平面要素不遵循公差相关要求;S2,从所建立的D_DFS和M_DFS中,选取两个或三个D_DFS构成D_DFS构件,选取两个或三个M_DFS构成M_DFS构件;根据所述D_DFS构件建立设计坐标系,根据所述M_DFS构件建立测量坐标系;S3,根据D_DFS构件和M_DFS构件装配后存在的相对运动建立设计坐标系和测量坐标系的相对运动关系;根据所述相对运动关系,定义转移公差和被测要素检验公差带;S4,采用双滑块和摆杆机构的串联组合表示设计坐标系相对于测量坐标系的最大相对运动关系,根据双滑块和摆杆机构的结构参数和性能参数,计算所述被测要素检验公差带;其中,双滑块中的第一滑块的运动方向与第二基准要素M_DFS中心平面与第一基准要素轮廓面交线平行,第二滑块的运动方向与第三基准要素M_DFS中心平面与第一基准要素轮廓面交线平行;所述第一滑块和所述第二滑块的运动确保D_DFS构件在M_DFS和D_DFS构件的间隙空间中作最大范围移动。
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