[发明专利]一种基于探针法测量粉末导热系数的实验系统和方法在审
| 申请号： | 201810640379.0 | 申请日： | 2018-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN108828005A | 公开（公告）日： | 2018-11-16 |
| 发明（设计）人： | 李晓静;刘博想;郑国忠 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学（保定） |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 071000 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于探针法测量粉末导热系数的实验系统和方法，所述系统包括：探针、稳压电源和数据采集设备，其中：所述探针包括硅片、金属带、聚酰亚胺保护膜和连接导线；所述探针用于加热和测温，插入待测粉末中，所述稳压电源通过测量电路为探针提供电压；数据采集设备包括电压表和计算机，所述电压表采集标准电阻、探针的电压，传送至所述计算机中；所述计算机根据接收的信号计算得到待测粉末的导热系数。将探针上的热带同时作为加热和测温元件，结构简单可靠，用导热系数大的硅片做为探针的基底，便于热带加热后的热量均匀传递给待测粉末。探针的上表面贴敷聚酰亚胺保护层，能够测量绝缘物质、半导体和金属等物质的粉末，用途更为广泛。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 导热系数 加热 数据采集设备 测量粉末 实验系统 稳压电源 电压表 探针法 硅片 计算机 聚酰亚胺保护膜 热带 标准电阻 测量电路 测温元件 聚酰亚胺 绝缘物质 连接导线 热量均匀 信号计算 保护层 金属带 上表面 测温 基底 贴敷 半导体 传送 采集 测量 金属 传递 | ||
【主权项】：
1.一种基于探针法测量粉末导热系数的实验系统，其特征在于，包括：探针、稳压电源和数据采集设备，其中：所述探针包括硅片、金属带、聚酰亚胺保护膜和连接导线；所述探针用于加热和测温，插入待测粉末中，所述稳压电源通过测量电路为探针提供电压；数据采集设备包括电压表和计算机，所述电压表采集标准电阻、探针的电压，传送至所述计算机中；所述计算机根据按收的信号计算得到待测粉末的导热系数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华北电力大学（保定），未经华北电力大学（保定）许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810640379.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
