[发明专利]电子设备测试方法与装置在审

专利信息
申请号: 201810630006.5 申请日: 2018-06-19
公开(公告)号: CN110618903A 公开(公告)日: 2019-12-27
发明(设计)人: 于松海;任玉峰;袁旸 申请(专利权)人: 北京忆恒创源科技有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 11572 北京卓特专利代理事务所(普通合伙) 代理人: 段宇
地址: 100192 北京市海淀区西小口*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请涉及存储设备,尤其涉及电子设备测试方法与装置,其中存储设备包括:存储接口、测试接口、测试代理、平台描述符和固件;测试代理通过测试接口接收测试设备的测试命令,并根据测试命令获取平台描述符,将平台描述符通过测试接口提供给测试设备;固件通过存储接口接收测试设备根据平台描述符生成的存储命令,并根据平台描述符处理存储命令得到处理结果,将处理结果通过存储接口提供给测试设备。由于相同的平台描述符既被固件使用,也被测试代理使用,从而确保了测试软件所获知的存储设备的特性与通过固件提供的存储设备的特性一致,进而确保测试过程的有效进行。
搜索关键词: 平台描述符 存储设备 测试代理 测试接口 存储接口 接收测试设备 测试命令 测试设备 电子设备测试 测试过程 测试软件 处理存储 存储命令 固件使用 特性一致 获知 申请
【主权项】:
1.一种存储设备,包括:存储接口、测试接口、测试代理、平台描述符和固件;测试代理通过测试接口接收测试设备的测试命令,并根据测试命令获取平台描述符,将平台描述符通过测试接口提供给测试设备;固件通过存储接口接收测试设备根据平台描述符生成的存储命令,并根据平台描述符处理存储命令得到处理结果,将处理结果通过存储接口提供给测试设备。/n
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