[发明专利]LED光源无损实时芯片可辩测量装置

摘要

本发明提供一种LED光源无损实时芯片可辩测量装置，其包括：成像机构、投影机构、光束采集机构、光谱分析机构以及计算机；LED光源位于成像机构的一侧，投影机构位于成像机构的另一侧，LED光源发出的光束经成像机构投射于投影机构上，光束采集机构包括采集端以及光束传输通道，成像的光束经采集端的采集，沿光束传输通道传输至光谱分析机构，计算机与光谱分析机构相连接并进行数据传输，计算机中存储有光谱‑温度标准曲线，计算机输出测量结果。本发明能够方便地对由多芯片组成的LED光源的结温进行测量，并根据测量结果对LED光源的质量、使用寿命作出评价。同时，测量过程中，不必接触LED光源，保证了测量结果的准确性和实时性。

主权项

1.一种LED光源无损实时芯片可辩测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：成像机构、投影机构、光束采集机构、光谱分析机构、导轨以及计算机；所述LED光源位于所述成像机构的一侧，所述投影机构位于所述成像机构的另一侧，所述LED光源发出的光束经所述成像机构投射于所述投影机构上，所述光束采集机构包括采集端以及光束传输通道，所述成像的光束经所述采集端的采集，沿所述光束传输通道传输至所述光谱分析机构，所述计算机与所述光谱分析机构相连接并进行数据传输，所述计算机中存储有光谱‑温度标准曲线，所述计算机输出测量结果，所述LED光源、成像机构、投影机构、光束采集机构通过各自的滑车依次滑动地设置于所述导轨上，任一所述滑车中设置有驱动所述滑车沿所述导轨滑动的电机，所述电机与所述计算机进行信号传输。