[发明专利]一种基于重定位的光切片荧光显微成像方法和装置

摘要

本发明公开了一种基于重定位的光切片荧光显微成像方法和装置，属于光学成像技术领域，包括沿光路依次布置的激光器、柱面镜和承载有荧光样品的样品台，以及收集荧光样品发出荧光的检测系统；检测系统包括第一检测器、分束器、第二检测器和第三检测器，还包括与检测系统和样品台连接的处理器，控制样品台以固定的步长沿Z轴移动，并对荧光图像I1和荧光图像I2进行比较，得到图中各个部分荧光在Z轴的位置信息，根据位置信息，对荧光图像I0中的荧光信息进行重新定位和三维重构，得到荧光样品的三维成像结果。可实现在不减小成像视场范围，不增加对样品的光漂白，不降低成像速度的情况下提高成像的轴向分辨率。

主权项

1.一种基于重定位的光切片荧光显微成像方法，激光光束聚焦为光切片后投射到荧光样品上激发荧光，收集荧光得到对应的荧光图像；其特征在于：收集荧光样品沿着Z轴向下发出的第一荧光，得到荧光图像I0；对荧光样品沿着Z轴向上发出的第二荧光进行分束并进行收集，得到荧光图像I1和荧光图像I2；以固定的步长沿Z轴移动所述荧光样品，采集荧光并获得荧光样品在各Z轴位置处的荧光图像I0、荧光图像I1和荧光图像I2，将荧光图像I1和荧光图像I2进行比较，得到图中各个部分荧光在Z轴的位置信息，根据所述的位置信息，对各Z轴位置处的荧光图像I0中荧光信息进行重新定位，确定荧光信息在Z轴上的位置；对重定位后的所有荧光图像I0进行三维重构，得到荧光样品的三维成像结果。