[发明专利]一种基于激光加热的高升温率热重分析系统及方法在审
| 申请号： | 201810433631.0 | 申请日： | 2018-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN108593483A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 王家伟;朱永祥;韦成华;王立君;吴涛涛;刘卫平;马志亮 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01N5/00 | 分类号： | G01N5/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 陈广民 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于化学测试系统领域，涉及一种基于激光加热的高升温率热重分析系统及方法，解决了现有技术存在的加热速率慢、加热温度不准确，不能满足材料在高升温率、高温下进行热重分析的问题。本发明的分析系统包括加热部分、测量部分和计算机；加热部分包括激光器、微透镜阵列、透镜、石墨、半反半透镜和全反镜组；测量部分包括热像仪、密封箱和电子天平；激光器提供的激光光束依次经过微透镜阵列、透镜和石墨；从石墨出射的激光经过半反半透镜，一部分辐照到待测件的前表面，另一部分辐照在待测件的后表面；热像仪分别监测待测件前表面、后表面的温升；电子天平用于对待测件称重；计算机同步采集、记录激光器参数、热像仪和电子天平的读数。 | ||
| 搜索关键词： | 加热 电子天平 热重分析 石墨 待测件 热像仪 透镜 半反半透镜 微透镜阵列 辐照 激光加热 激光器 后表面 前表面 测量 记录激光器 分析系统 化学测试 激光光束 全反镜组 同步采集 系统领域 计算机 密封箱 称重 出射 温升 激光 监测 | ||
【主权项】：
1.一种基于激光加热的高升温率热重分析系统，其特征在于：包括加热部分、测量部分和计算机(13)；加热部分包括激光器(1)、微透镜阵列(2)、透镜(3)、石墨(4)、半反半透镜(5)和全反镜组(6)；微透镜阵列(2)的数量为两个，分为第一微透镜阵列(201)和第二微透镜阵列(202)；石墨(4)用于限定激光光束的尺寸；测量部分包括热像仪(7)、密封箱(8)和电子天平(11)；电子天平(11)位于密封箱(8)内；待测件(14)放置在电子天平(11)上；热像仪(7)的数量为两个，分为第一热像仪(701)和第二热像仪(702)；所述密封箱(8)的前表面设有前锗窗口(901)和前玻璃窗口(1001)，密封箱(8)的后表面设有后锗窗口(902)和后玻璃窗口(1002)，密封箱(8)的两个侧面分别设有进气管(12)和出气管(15)；所述激光器(1)用于提供激光光源，激光光束依次经过第一微透镜阵列(201)、第二微透镜阵列(202)、透镜(3)和石墨(4)；从石墨(4)出射的激光光束经过半反半透镜(5)，一部分激光光束依次穿过半反半透镜(5)和前玻璃窗口(1001)后辐照到待测件(14)的前表面，另一部分激光光束被半反半透镜(5)反射到全反镜组(6)上，经全反镜组(6)反射的激光光束穿过后玻璃窗口(1002)后辐照在待测件(14)的后表面；第一热像仪(701)和第二热像仪(702)分别透过前锗窗口(901)和后锗窗口(902)监测待测件(14)前表面、后表面在激光辐照下的温升；电子天平(11)用于对待测件(14)称重；计算机(13)同步采集、记录激光器(1)参数、热像仪(7)和电子天平(11)的读数。
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