[发明专利]一种纳米尺度磁化动态的测量方法有效
| 申请号： | 201810429134.3 | 申请日： | 2018-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN108535671B | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 张向平;方晓华;范晓雯 | 申请（专利权）人： | 金华职业技术学院 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 321017 *** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及材料表面磁性测量领域，一种纳米尺度磁化动态的测量方法，测量装置包括脉冲激光器、延时器、1/4波片、凹透镜、凸透镜I、平面镜、偏振片、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜I、探针I、透镜座、物镜、样品、波导、样品台、信号发生器、示波器、探测器、偏置三通、放大器I、混频器、放大器II、模数转换器、计算机、原子力显微镜II、探针II、相敏检测器，能够对单个纳米结构进行测量，对样品表面的磁化动态的测量能达到亚微米量级的空间分辨率，采用两个不同的原子力显微镜针尖分别进行接触模式原子力显微镜扫描以及近场时间分辨磁光克尔效应实验，并采用频域方法来探测样品表面GHz频段的磁化动态，具有较高灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 尺度 磁化 动态 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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