[发明专利]一种检测汞离子的方法在审
申请号: | 201810428270.0 | 申请日: | 2018-05-07 |
公开(公告)号: | CN108774514A | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 银川高新区广煜科技有限公司 |
主分类号: | C09K11/06 | 分类号: | C09K11/06;G01N21/64;G01N21/33;G01N21/78 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 750002 宁夏回族自治*** | 国省代码: | 宁夏;64 |
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摘要: | 本发明涉及一种高选择性超灵敏检测汞离子的方法。具体地,本发明的方法使用的探针为一类荧光素类化合物,其可作为汞离子比色荧光探针用于汞离子的检测。这类探针可实现如下的技术效果中的至少一个:高选择性地识别汞离子;可以对汞离子实现快速识别;可以实现对汞离子的超灵敏分析;性质稳定,可以长期保存使用;以及具有较强的抗干扰能力。 | ||
搜索关键词: | 汞离子 探针 荧光素类化合物 比色荧光探针 超灵敏检测 抗干扰能力 长期保存 方法使用 高选择性 技术效果 快速识别 灵敏分析 性质稳定 种检测 检测 | ||
【主权项】:
1.检测样本中汞离子的方法,其包括将样本与具有以下结构的化合物接触的步骤:
其中:R1,R2,R3,R4,R5,R6和R7为氢原子,直链或支链烷基,直链或支链烷氧基,磺酸基,酯基,羧基;R1,R2,R3,R4,R5,R6和R7可以相同或不同。
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