[发明专利]用于材料表面的位移场测量方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201810392736.6 | 申请日： | 2018-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN108871197B | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 王琳琳;胡旭;罗志磊 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学(北京) |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G06T7/00;G06T7/60 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王天尧;周晓飞 |
| 地址： | 102249*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种用于材料表面的位移场测量方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：针对待测量材料，采集变形前的第一图像和变形后的第二图像；根据第一图像建立第一图像金字塔，根据第二图像建立第二图像金字塔，第一图像和第二图像的尺寸相同；根据第一图像金字塔和第二图像金字塔，计算第二图像金字塔中每个层级相对于第一图像金字塔中相同层级的灰度梯度；将第二图像金字塔中每个层级的灰度梯度代入L1范数流光算法的目标函数，采用次梯度迭代算法计算L1范数流光算法的目标函数，得出第二图像金字塔中每个层级的位移场。该方案实现了计算材料表面的运动边缘部位、裂缝以及切口等出现不连续位移位置的位移场，缩短了位移计算的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 材料 表面 位移 测量方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种用于材料表面的位移场测量方法，其特征在于，包括：针对待测量材料，采集变形前的第一图像和变形后的第二图像，第一图像和第二图像的尺寸相同；根据第一图像建立第一图像金字塔，根据第二图像建立第二图像金字塔，其中，所述第一图像金字塔中层级间的缩小比例和所述第二图像金字塔中层级间的缩小比例相同；根据所述第一图像金字塔和所述第二图像金字塔，计算所述第二图像金字塔中每个层级相对于所述第一图像金字塔中相同层级的灰度梯度；将所述第二图像金字塔中每个层级的灰度梯度代入L1范数流光算法的目标函数，采用次梯度迭代算法计算L1范数流光算法的目标函数，得出所述第二图像金字塔中每个层级的位移场。
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