[发明专利]测试装置和测试方法在审
| 申请号： | 201810379880.6 | 申请日： | 2018-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN108809446A | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 亨德里克·巴尔特科;阿德姆·坦基埃隆;亚历山大·帕布斯特;托尔斯滕·赫特尔 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/20;H04B7/0413;H04B7/06 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 陈慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于测试待测设备的测试装置包括：可旋转的设备支架，用于承载在一个轴线上至少可旋转的待测设备；第一测试天线和第二测试天线；第一天线定位装置，用于在仰角方向上相对于待测设备移动第一测试天线；以及第二天线定位装置，用于在方位角方向和仰角方向上相对于待测设备移动第二测试天线。 | ||
| 搜索关键词： | 测试天线 待测设备 天线定位装置 测试装置 可旋转的 仰角方向 方位角方向 测试 设备支架 移动 承载 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试待测设备的测试装置，所述测试装置包括：可旋转的设备支架，用于承载在一个轴线上至少可旋转的所述待测设备；第一测试天线和第二测试天线；第一天线定位装置，用于在仰角方向上相对于所述待测设备移动所述第一测试天线；以及第二天线定位装置，用于在方位角方向和仰角方向上相对于所述待测设备移动所述第二测试天线。
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