[发明专利]坩埚结构及其制作方法与硅晶结构及其制作方法在审
申请号: | 201810372671.9 | 申请日: | 2018-04-24 |
公开(公告)号: | CN108796617A | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 叶泽萌;蔡亚陆 | 申请(专利权)人: | 友达晶材股份有限公司 |
主分类号: | C30B35/00 | 分类号: | C30B35/00;C30B29/06;C30B28/06;C30B15/10 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种坩埚结构及其制作方法与硅晶结构及其制作方法。坩埚结构,适于制作一硅晶结构。坩埚结构包括一坩埚本体以及一离型涂层。坩埚本体的材料包括二氧化硅。离型涂层直接覆盖坩埚本体,且离型涂层的材料包括硅酸钡。硅酸钡为一连续膜层用以接触硅晶结构,而离型涂层的厚度介于35微米至350微米之间。 | ||
搜索关键词: | 离型涂层 坩埚结构 硅晶 坩埚本体 制作 硅酸钡 二氧化硅 连续膜层 直接覆盖 | ||
【主权项】:
1.一种坩埚结构,适于制作硅晶结构,其特征在于,该坩埚结构包括:坩埚本体,该坩埚本体的材料包括二氧化硅;以及离型涂层,直接覆盖该坩埚本体,该离型涂层的材料包括硅酸钡,其中该硅酸钡为连续膜层,用以接触该硅晶结构,而该离型涂层的厚度介于35微米至350微米之间。
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