[发明专利]一种激光测距辅助光学影像联合平差方法及系统有效

专利信息
申请号: 201810362451.8 申请日: 2018-04-20
公开(公告)号: CN108594255B 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 张永军;谢勋伟;李彦胜;王祥 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01S17/42 分类号: G01S17/42;G01S17/02;G01S7/497;G06F17/11
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 严彦
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种激光测距辅助光学影像联合平差方法及系统,以所有影像的同名匹配点作为第一类像点观测值,以激光脚印点在某张影像上的反投影点和该反投影点在其它影像上的匹配点作为第二类像点观测值,以所得激光脚印点在所有影像上的反投影点作为第三类像点观测值,采用累计点到核线距离的均方根作为直接观测值,列出相应的误差方程;对于第二类和第三类像点观测值同时按照共线方程列出相应的误差方程;同时视激光脚印点为一种低精度的控制点,列出相应的坐标观测方程;并联合GPS或POS误差观测方程,形成本发明的激光测距辅助光学影像联合平差模型,采用最小二乘的平差准则求解影像的精确外方位元素。本发明能够充分满足无直接地面控制条件下高精度对地观测定位的需求。
搜索关键词: 一种 激光 测距 辅助 光学 影像 联合 方法 系统
【主权项】:
1.一种激光测距辅助光学影像联合平差方法,其特征在于:将激光测距观测转化为坐标观测引入到光学影像的平差过程之中,包括以下步骤,步骤1,获取激光脚印点的概略坐标与先验精度;步骤2,按照POS初值计算激光脚印点在某一张影像上的反投影点,并通过匹配计算该反投影点在其他影像上的同名点;步骤3,按照POS初值计算激光脚印点在所有影像上的反投影点;步骤4,以所有影像的同名匹配点作为第一类像点观测值,以步骤2所得激光脚印点在某张影像上的反投影点和该反投影点在其它影像上的匹配点作为第二类像点观测值,以步骤3所得激光脚印点在所有影像上的反投影点作为第三类像点观测值,按照如下子步骤建立联合平差模型,步骤4.1,计算左影像上点到核线的归一化距离;步骤4.2,计算同名点的累计点到核线距离的均方根,并作为联合平差模型的直接观测值;步骤4.3,以同名点的累计点到核线距离的均方根分别对所有影像的外方位元素求微分,并形成误差方程式;步骤4.4,对于第二类和第三类像点观测值,按照传统摄影测量理论建立反投影残差误差方程式;步骤4.5,对于激光脚印点的概略坐标认为其带有误差而建立相应的观测误差方程式;步骤4.6,若存在GPS或者POS观测值,建立相应的误差方程式;步骤4.7,通过步骤4.1~4.6形成的激光测距辅助光学影像联合平差模型,按照最小二乘的平差准则,精确求解影像的外方位元素。
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