[发明专利]一种结构光三维扫描可达性分析方法及分析系统有效
| 申请号： | 201810344169.7 | 申请日： | 2018-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN108955520B | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 颜昌亚;何姗姗;刘磊;李振瀚;黄昆涛 | 申请（专利权）人： | 武汉工程大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立;李蕾 |
| 地址： | 430000 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种结构光三维扫描可达性分析方法，包括：根据结构光三维扫描设备的几何测量模型，构建扫描工作空间。对待测工件参考模型的曲面进行离散，得到待测工件参考模型的位于曲面上的采样点。基于待测工件参考模型，构建每个采样点的扫描可视锥空间。根据扫描工作空间、扫描可视锥空间和预设的结构光扫描可达性条件，判断每个采样点在结构光三维扫描设备扫描下的扫描可达性。将扫描可达的采样点和扫描不可达的采样点分别以不同的颜色在曲面上显示。本发明通过对扫描设备的几何参数和待测工件参考模型分析，结合结构光扫描可达性条件对被测物体进行扫描可达性评判，可达性分析结果可为扫描操作提供参考，以便于操作人员调整、优化扫描策略。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 三维 扫描 可达性 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种结构光三维扫描可达性分析方法，其特征在于，包括：步骤1、根据结构光三维扫描设备的几何测量模型，构建扫描工作空间；步骤2、对待测工件参考模型的曲面进行离散，得到所述待测工件参考模型的位于所述曲面上的采样点；步骤3、基于所述待测工件参考模型，构建每个所述采样点的扫描可视锥空间；步骤4、根据所述扫描工作空间、所述扫描可视锥空间和预设的结构光扫描可达性条件，判断每个所述采样点在所述结构光三维扫描设备扫描下的扫描可达性；步骤5、将扫描可达的所述采样点和扫描不可达的所述采样点分别以不同的颜色在所述曲面上显示。
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