[发明专利]用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及系统有效
| 申请号： | 201810325304.3 | 申请日： | 2018-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN108694273B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 许诺;王敬;崔祐晟;江正平 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 刘培培;黄隶凡 |
| 地址： | 韩国京畿道水*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及其系统，其可提高重要性采样蒙特卡罗(ISMC)模拟效率及准确性。所述方法包括：执行初始采样，以检测在多维度参数空间中分别位于一个或多个失效区处的失效样本；产生失效样本沿每一维度在离散值处的分布；识别所述失效样本；执行变换以将所述失效样本投影到变换空间中的所有维度中；以及针对所述参数空间中的每一维度来分类失效区的类型。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 评估 稀有 失效 事件 电路 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法，其特征在于，所述电路良率分析方法包括：执行初始采样，以检测在多维度参数空间中分别位于一个或多个失效区处的失效样本；产生所述失效样本沿每一维度在离散值处的分布；识别所述失效样本；执行变换，以将所述失效样本投影到变换空间中的所有维度中；以及针对所述参数空间中的每一维度来分类所述失效区的类型。
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