[发明专利]基于光热快速升温的磁悬浮热天平有效
| 申请号： | 201810320916.3 | 申请日： | 2018-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN108956360B | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 胡松;李寒剑;池寰瀛;向军;苏胜;汪一;许凯;郭俊豪;何立模;徐俊;韩亨达 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N5/04 | 分类号： | G01N5/04 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 樊戎 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光热快速升温的磁悬浮热天平，包括密闭容器、反应池、磁悬浮装置、激光位移监测组件、光热升温组件和光热升温组件位移装置；所述密闭容器的上端设置有气体进口，下端设置有可拆卸的盖板，盖板上设置有气体出口，所述密闭容器的内部设置有气流稳定装置和红外测温组件，侧壁设置有由透明材料制成的位移监测窗口和加热光束窗口；所述光热升温组件设置在光热升温组件位移装置上，可通过后者进行位移；所述磁悬浮装置包括磁悬浮浮子和磁悬浮定子；所述磁悬浮浮子的上部固定设置有用于支撑反应池的支撑架。本发明通过测量磁悬浮浮子位移量，再转换为物料质量变化，减小了系统误差，控温条件下物料质量变化的高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光热 快速 升温 磁悬浮 天平 | ||
【主权项】：
1.一种基于光热快速升温的磁悬浮热天平，其特征在于：包括密闭容器(1)、反应池(601)、磁悬浮装置(6)、激光位移监测组件(10)、光热升温组件(9)和光热升温组件位移装置(903)；所述密闭容器(1)的上端设置有气体进口(2)，下端设置有可拆卸的盖板(12)，所述盖板(12)上设置有气体出口(11)，所述密闭容器(1)的内部设置有气流稳定装置(3)和红外测温组件(5)，所述密闭容器(1)的侧壁设置有均由透明材料制成的位移监测窗口(102)和加热光束窗口(101)；所述气流稳定装置(3)固定在气体进口(2)的下方，所述红外测温组件(5)固定在气流稳定装置(3)的下方；所述光热升温组件(9)、激光位移监测组件(10)设置于密闭容器(1)周围；所述光热升温组件(9)与光热升温组件位移装置(903)相连，可通过光热升温组件位移装置(903)进行位移；所述磁悬浮装置(6)包括磁悬浮浮子(603)和磁悬浮定子(7)；所述磁悬浮浮子(603)的上部固定设置有用于支撑反应池(601)的支撑架(602)；进行测量时，所述磁悬浮定子(7)位于盖板(12)下方，所述反应池(601)放置在支撑架(602)上并与磁悬浮浮子(603)一起置于密闭容器(1)内，所述反应池(601)、磁悬浮浮子(603)和磁悬浮定子(7)在同一条中心轴线上；所述红外测温组件(5)正对反应池(601)上部的开口；所述光热升温组件(9)发出的加热光线能够穿过加热光束窗口(101)汇聚到反应池(601)上；所述激光位移监测组件(10)发出的监测激光能够穿过位移监测窗口(102)照射到磁悬浮浮子(603)的测量位置。
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