[发明专利]一种激光测高仪综合测试系统及其综合测试方法

摘要

本发明公开了一种激光测高仪综合测试系统及其综合测试方法，属于激光技术领域。本发明实现了测绘相机中激光测高分系统性能测试所需的不同地物特征模拟及太阳光谱模拟，应用于激光测高分系统指标参数的标定，包括整机的延时时间常数、测距精度、测距范围、测距分辨率、探测灵敏度、最大测程等。激光测高仪综合测试系统集成度高，控制便捷，在达到上述功能的基础上提高了激光测高仪综合测试系统的可靠性与稳定性。

主权项

1.一种激光测高仪综合测试系统，其特征在于：包括激光导光组件、激光接收特性检测系统；所述激光导光组件包括光束收集器、光纤衰减器和光纤；激光接收特性检测系统包括电通道模拟组件、信号光和背景光模拟组件和光机组件；其连接关系为：光束收集器输入端直接与激光测高分系统的激光发射组件相连，输出端通过光纤与光纤衰减器的输入端相连，光纤衰减器的输出端通过光纤与电通道模拟组件相连，电通道模拟组件与信号光和背景光模拟组件相连，信号光和背景光模拟组件与光机组件相连；光束收集器将激光测高分系统激光发射组件出射的高功率激光脉冲部分耦合进光纤，实现激光功率第一步衰减，光纤衰减器进一步将激光脉冲功率衰减至满足电通道模拟组件光电探测的范围；电通道模拟组件在外部光信号的触发下，产生一定延时的光源驱动信号，同时结合主、回波探测，实现时间间隔测量；光源驱动信号控制信号光和背景光模拟组件产生模拟回波，通过光机组件控制出射光有效口径及发散角，使模拟回波完全进入激光测高分系统的激光接收组件。