[发明专利]大型卷铁心变压器线圈绕制效果的评测方法有效
申请号: | 201810285183.4 | 申请日: | 2018-04-02 |
公开(公告)号: | CN108956697B | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 吴振宇;周利军;郭蕾;江俊飞;李威;高仕斌;严静荷 | 申请(专利权)人: | 西南交通大学 |
主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00;G01R31/00;G01R31/06 |
代理公司: | 成都盈信专利代理事务所(普通合伙) 51245 | 代理人: | 崔建中 |
地址: | 611756 四川省成都市高*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了大型卷铁心变压器线圈绕制效果的评测方法。具体实现步骤为首先绕制高、低压线圈及测试接线,然后进行频率响应测试,接着进行特征信息提取,最后进行参量对比判断。通过本发明提供的大型封闭式单框卷铁心线圈绕制工艺方法,能够提高线圈的可靠性,减少因线圈绕制问题导致的变压器安全隐患。 | ||
搜索关键词: | 线圈绕制 铁心变压器 评测 大型卷 特征信息提取 线圈绕制工艺 测试 安全隐患 参量对比 低压线圈 频率响应 卷铁心 单框 绕制 接线 变压器 | ||
【主权项】:
1.大型卷铁心变压器线圈绕制效果的评测方法,其特征在于,包括:步骤11:在大型单框卷铁心第一心柱上绕制第一低压线圈,在第二心柱上绕制第二低压线圈;步骤12:用频率响应测试仪对第一心柱上第一低压线圈进行频率响应测试,测试频段为1kHz‑1MHz,得到均匀分布序列X1(f);用频率响应测试仪对第二心柱上第二低压线圈进行频率响应测试,测试频段为1kHz‑1MHz,得到均匀分布序列X2(f);步骤13:将均匀分布序列X1(f)和X2(f)在同一坐标下绘制成曲线及图块,其中分成三个频段,分别为LF、HF和HF;所述LF、MF和HF的频率分别为1kHz‑100kHz、100kHz‑600kHz和600kHz‑1MHz;针对三个频段分别计算特征参数:幅值极差比σ1和等效缺陷面积比σ2,如下:![]()
n为两条曲线X1(f)和X2(f)围成的阴影区域所包含的具体步长数;均匀分布序列X1(f)和X2(f)为频率响应曲线对应的序列,频率响应曲线的自变量为1kHz‑1MHz的频率点序列fi;fi为i=1,2,3,4,……n‑1时的均匀分布序列X1(f)、X2(f)对应的频率点序列;步骤14:进行缺陷检测;如线圈存在缺陷,则进行线圈的重新绕制和检测,直到线圈正常;步骤15:按照步骤11至14的方法进行第一高压线圈和第二高压线圈的绕制和检测,直到线圈正常;步骤16:将第一低压线圈和第一高压线圈串接、第二低压线圈和第二高压线圈串接,并按照步骤12至14的方法进行检测,直到线圈正常;所述缺陷检测,包括:步骤21:在LF频段内,如σ1∈[0,15%]则判定:线圈在该频段正常;在MF频段内,如σ1∈[0,15%]则判定:线圈在该频段正常;在HF频段内,如σ1∈[0,20%]则判定:线圈在该频段正常;当线圈在所有频段均正常,则线圈正常;否则,线圈存在缺陷;步骤22:如线圈存在缺陷,则继续进行故障类型的判定:在LF频段内,如σ2∈[0,45%]则线圈在本频段正常,并进行下一频段的判定;否则判定为线圈匝间或饼间短路故障;在MF频段内,如σ2∈[0,45%]则线圈在本频段正常,并进行下一频段的判定;否则判定为线圈扭曲和鼓包故障;在HF频段内,如σ2∈[0,60%]则线圈在本频段正常;否则判定为线圈整体移位或引线位移故障。
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