[发明专利]双射线源检测设备及其控制设备、出束方法在审
| 申请号： | 201810175698.9 | 申请日： | 2018-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN108345040A | 公开（公告）日： | 2018-07-31 |
| 发明（设计）人： | 王满仓;张祖涛;王骞;沈益民 | 申请（专利权）人： | 上海瑞示电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人： | 王子龙 |
| 地址： | 200120 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种双射线源检测设备及其控制设备、出束方法，该双射线源检测设备出束时，两个射线源采用脉冲出束，且两个射线源出束时刻错开。这样两个探测器阵列在接收对应的射线源发出的射线时就不会接受到另一个射线源散射的射线，能够从根本上有效的消除两个探测器阵列之间的散射干扰，提高了成像效果；同时，也不需要在两个探测器阵列之间设置遮挡装置进行遮挡，降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 射线源 探测器阵列 检测设备 控制设备 散射 射线 成像效果 遮挡装置 错开 脉冲 遮挡 | ||
【主权项】：
1.一种双射线源检测设备出束方法，其特征是，两个射线源均采用脉冲出束，且两个射线源出束时刻错开。
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