[发明专利]一种复杂外立面测量系统及分析方法

摘要

本发明公开了一种复杂外立面测量系统及分析方法，包括底座、升降机构、旋转机构、3D扫描仪、电控箱、显示屏、控制板、存储模块、无线网络模块、图像处理模块和PLC控制器，所述底座的顶部中心处通过螺栓固定有升降机构，所述升降机构的顶部通过螺栓固定有旋转机构，所述旋转机构的顶部通过螺栓固定有3D扫描仪，所述旋转机构的一侧通过铰链连接有电控箱，所述电控箱的一侧嵌入安装有显示屏，所述显示屏的一侧嵌入安装有控制板，所述电控箱的内部安装有存储模块、无线网络模块、图像处理模块和PLC控制器，所述控制板电性连接升降机构、旋转机构和3D扫描仪，本发明，结构简单，使用方便，有效提升了使用的方便性。

主权项

1.一种复杂外立面测量系统，包括底座(1)、升降机构(2)、旋转机构(3)、3D扫描仪(4)、电控箱(5)、显示屏(6)、控制板(7)、存储模块(32)、无线网络模块(33)、图像处理模块(34)和PLC控制器(35)，其特征在于：所述底座(1)的顶部中心处通过螺栓固定有升降机构(2)，所述升降机构(2)的顶部通过螺栓固定有旋转机构(3)，所述旋转机构(3)的顶部通过螺栓固定有3D扫描仪(4)，所述旋转机构(3)的一侧通过铰链连接有电控箱(5)，所述电控箱(5)的一侧嵌入安装有显示屏(6)，所述显示屏(6)的一侧嵌入安装有控制板(7)，所述电控箱(5)的内部安装有存储模块(32)、无线网络模块(33)、图像处理模块(34)和PLC控制器(35)，所述控制板(7)电性连接升降机构(2)、旋转机构(3)和3D扫描仪(4)，所述PLC控制器(35)电性连接存储模块(32)、无线网络模块(33)和图像处理模块(34)，所述无线网络模块(33)与物联网模块通过信号连接。