[发明专利]一种基于相邻像素统计一致性的非均匀性校正方法及系统

摘要

一种基于相邻像素统计一致性的非均匀性校正方法及系统，属于红外焦平面探测领域，解决了现有的非均匀性校正方法存在的校正精度低和鲁棒性不强的问题。首先，使场景和相机相对运动，并开始采集图像；其次，计算每一帧每一个像素与相邻像素的比值，然后迭代更新每一个像素对应的N个比值的平均值；最后，逐像素递推计算校正系数。本发明的校正方法不需要中断正常的成像过程，计算量小，鲁棒性强，校正精度高，方便硬件实现，有着广泛的应用前景。

主权项

1.一种基于相邻像素统计一致性的非均匀性校正方法，其特征在于步骤如下：步骤一、保持被拍摄场景和焦平面阵列存在相对运动，获得N帧图像，N为正整数；步骤二、根据第n帧图像第一行像素与第一列像素，计算得到比值矩阵的第一行元素和第一列元素，1≤n≤N；步骤三、对于第n帧图像，计算除第一行像素和第一列像素之外的所有像素点对应的比值矩阵的元素值；步骤四、根据步骤二和步骤三计算得到的比值矩阵元素，逐像素迭代更新第1帧至第n帧图像比值矩阵的均值；步骤五、重复步骤二、步骤三和步骤四，直至第N帧图像，最终得到第1帧至第N帧图像比值矩阵的均值；步骤六、根据步骤五得到的比值矩阵的均值，递推计算图像第一行像素以及第一列像素的校正系数；步骤七、递推计算除了步骤六中像素以外的其他像素的校正系数，从而完成对图像的非均匀性校正。