[发明专利]一种太赫兹场的检测装置及检测方法有效
| 申请号： | 201810119483.5 | 申请日： | 2018-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN110118606B | 公开（公告）日： | 2020-06-23 |
| 发明（设计）人： | 李玉同;刘浩;廖国前;王瑄 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00;G01J4/00;G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人： | 薛峰;康正德 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种太赫兹场的检测装置及检测方法，涉及太赫兹场检测。所述检测装置包括：电子枪，用于朝向设定目标点发射电子束；太赫兹发射机构，用于向所述电子束发射太赫兹光束，以加速和/或偏转所述电子束；成像单元，与所述设定目标点对接，以显示所述电子束的束斑；以及确定单元，配置成基于所述束斑获取所述太赫兹光束对应的太赫兹场的参数，所述参数至少包括所述太赫兹场的振幅、偏振和/或脉冲宽度。本发明一方面提出一种完全不同于现有技术的太赫兹场检测方式，已经超越了本领域技术人员的认知范畴；另一方面本发明可以同时检测场强、偏振和脉冲宽度，从而保证参数的同步性，进而保证参数检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 赫兹 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种太赫兹场的检测装置，包括：电子枪，用于朝向设定目标点发射电子束；太赫兹发射机构，用于向所述电子束发射太赫兹光束，以加速和/或偏转所述电子束；成像单元，与所述设定目标点对接，以显示所述电子束的束斑；以及确定单元，配置成基于所述束斑获取所述太赫兹光束对应的太赫兹场的参数，所述参数至少包括所述太赫兹场的振幅、偏振和/或脉冲宽度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院物理研究所，未经中国科学院物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810119483.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
