[发明专利]一种绝缘子表面电荷反演算法有效
申请号: | 201810101655.6 | 申请日: | 2018-02-01 |
公开(公告)号: | CN108318750B | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 张波;林川杰;何金良;李传扬;胡军 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01R29/24 | 分类号: | G01R29/24 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本申请涉及输配电绝缘组件检测技术领域,尤其涉及一种绝缘子表面电荷反演算法。该算法包括:S1将绝缘子的表面划分为n个区域;S2获取第一时刻每个区域的第一表面电势Φ |
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搜索关键词: | 一种 绝缘子 表面 电荷 反演 算法 | ||
【主权项】:
1.一种绝缘子表面电荷反演算法,其特征在于,包括:S1将所述绝缘子的表面划分为n个区域,n为大于零的自然数;S2获取第一时刻每个所述区域的第一表面电势Φ1i和第二时刻每个所述区域的第二表面电势Φ2i,i=1,2,……,n,其中,所述第一时刻和所述第二时刻之间为预设的时间间隔;S3根据所述第一表面电势Φ1i和第二表面电势Φ2i,计算所述第一时刻和所述第二时刻之间,每个所述区域的电势变化值△Φi;S4根据每个区域的所述电势变化值△Φi,计算所述第一时刻和所述第二时刻之间,所述绝缘子的视在表面电荷密度变化量△σi′;S5根据所述视在表面电荷密度变化量△σi′,计算所述第一时刻和所述第二时刻之间,所述绝缘子的实际表面电荷密度变化量△σi。
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