[发明专利]氧化石墨烯的还原程度的测试方法有效
申请号: | 201810091508.5 | 申请日: | 2018-01-30 |
公开(公告)号: | CN108398577B | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 申月;周园;海春喜;孙艳霞;曾金波;李翔;任秀峰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院青海盐湖研究所 |
主分类号: | G01Q60/00 | 分类号: | G01Q60/00 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人: | 孙伟峰;吕颖 |
地址: | 810008*** | 国省代码: | 青海;63 |
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摘要: | 本发明公开了一种氧化石墨烯的还原程度的测试方法,其包括步骤:S1、采用静电力显微镜测定还原态氧化石墨烯在不同针尖偏压下的静电力显微镜图;S2、以静电力显微镜图中所述还原态氧化石墨烯的相位对针尖偏压作图,获得相位‑针尖偏压曲线;S3、根据相位‑针尖偏压曲线确定所述还原态氧化石墨烯较氧化石墨烯的还原程度的大小。本发明通过对比相位‑针尖偏压曲线的峰位及峰强变化,能够在氧化石墨烯样品被不同还原方法均匀还原后,对单片层还原态氧化石墨烯样品的还原程度差别进行纳米尺度的表征;相比现有技术,其可以作为静电力显微镜及扫描极化力显微镜等表征初始还原反应阶段方法的补充,用以丰富氧化石墨烯研究过程中的表征途径。 | ||
搜索关键词: | 氧化 石墨 还原 程度 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种氧化石墨烯的还原程度的测试方法,其特征在于,包括步骤:S1、采用静电力显微镜测定还原态氧化石墨烯在不同针尖偏压下的静电力显微镜图;S2、以所述静电力显微镜图中所述还原态氧化石墨烯的相位对针尖偏压作图,获得相位‑针尖偏压曲线;S3、根据所述相位‑针尖偏压曲线确定所述还原态氧化石墨烯较氧化石墨烯的还原程度的大小;其中,在所述相位‑针尖偏压曲线中,相位的峰值或谷值对应的特定针尖偏压的绝对值越小、和/或小于所述特定针尖偏压的任一针尖偏压下的相位的绝对值越大,则其对应的还原态氧化石墨烯较氧化石墨烯的还原程度越高。
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