[发明专利]基于量子层析的量子门检测系统有效
申请号: | 201810087690.7 | 申请日: | 2018-01-29 |
公开(公告)号: | CN108319773B | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 张子静;赵远;张建东;靳辰飞;宋杰 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G06F30/39 | 分类号: | G06F30/39 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 宋诗非 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 基于量子层析的量子门检测系统,属于量子信息技术领域,解决了现有量子门的运算正确性的检测问题。所述检测系统:通过切换偏振调制单元的调制模式,将线偏振光发生单元产生的线偏振光分别转换为三种偏振光,这三种偏振光的偏振方向两两非正交。每种偏振光依次经待测量子门的逻辑操作、偏振解调单元的相应解调、偏振分光单元的分光以及两个光电探测单元的转换后,成为第一电信号和第二电信号。最后,量子层析单元根据三种偏振光对应的三组第一电信号和第二电信号,重构待测量子门的传输么正矩阵,并根据该传输么正矩阵判断待测量子门是否满足设计要求。本发明所述基于量子层析的量子门检测系统特别适用于二维单比特量子门的检测。 | ||
搜索关键词: | 基于 量子 层析 检测 系统 | ||
【主权项】:
1.基于量子层析的量子门检测系统,其特征在于,所述检测系统包括线偏振光发生单元(1)、偏振调制单元(2)、偏振解调单元(3)、偏振分光单元(4)、第一光电探测单元(5)、第二光电探测单元(6)和量子层析单元(7);偏振调制单元(2)用于将线偏振光发生单元(1)发出的线偏振光调制为第一偏振光、第二偏振光或第三偏振光,第一偏振光、第二偏振光与第三偏振光的偏振方向两两非正交;偏振调制单元(2)的出射光经待测量子门的逻辑操作后,入射至偏振解调单元(3);偏振解调单元(3)的解调模式与偏振调制单元(2)的调制模式相对应;偏振分光单元(4)用于将偏振解调单元(3)的出射光分光为水平偏振光和竖直偏振光;第一光电探测单元(5)用于将水平偏振光转换为第一电信号;第二光电探测单元(6)用于将竖直偏振光转换为第二电信号;量子层析单元(7)用于根据偏振调制单元(2)的三种调制模式下的第一电信号和第二电信号,重构得到待测量子门的传输么正矩阵,并根据该传输么正矩阵判断待测量子门是否满足设计要求。
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