[发明专利]一种用于连续变量量子密钥分发系统中的快速错误校验方法在审

专利信息
申请号: 201810076751.X 申请日: 2018-01-26
公开(公告)号: CN108259137A 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 喻松;王翔宇;李梅;张一辰;赵一甲 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H04L9/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种用于连续变量量子密钥分发系统中的快速错误校验方法。它是一种适用于多边类型低密度奇偶校验码(MET‑LDPC)的错误校验方法。其实现步骤如下,步骤1:连续变量量子密钥分发系统的后处理在纠错完成以后,如果译码判定成功,根据MET‑LDPC码的度数分布,筛选出度数大于1的节点对应的数据;步骤2:根据筛选出的数据长度,以及安全参数值,计算校验位长度,然后构造相应的错误校验码;步骤3:对度数大于1的数据进行错误校验,根据MET‑LDPC码校验矩阵的度数分布特点,该结果等价于所有数据错误校验的结果。本发明中的方法可以大大减小错误校验的复杂度且拥有更高的安全性,对连续变量量子密钥分发系统的实时处理以及安全性具有重要的意义。
搜索关键词: 错误校验 量子密钥分发系统 连续变量 度数 度数分布 低密度奇偶校验码 筛选 数据错误校验 错误校验码 后处理 多边类型 实时处理 复杂度 校验位 减小 纠错 译码 等价 判定 安全 成功
【主权项】:
1.一种用于连续变量量子密钥分发系统中的快速错误校验方法,包括如下步骤:步骤1:连续变量量子密钥分发系统的后处理在纠错完成以后,如果译码判定成功,根据MET‑LDPC码的度数分布,找出度数大于1的节点对应的数据。步骤2:根据度数大于1的数据长度,以及安全参数值,计算错误校验的校验位长度,然后构造相应的错误校验码。步骤3:对度数大于1的数据进行错误校验,根据MET‑LDPC码校验矩阵的度数分布特点,该结果等价于所有数据错误校验的结果。
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