[发明专利]一种橡胶密封圈失效检测方法

摘要

本发明提供了一种橡胶密封圈失效检测方法，步骤包括：通过应力加载、老化试验计算多个橡胶密封圈的残余压缩永久变形率；测定经老化试验后的各个橡胶密封圈表面交联密度和表面氧元素相对原子含量并建立橡胶密封圈残余压缩永久变形率回归分析预测方程，从随弹贮存T时间后的橡胶密封圈表面截取细薄片并测定其表面交联密度X1和表面氧元素相对原子含量X2，将测定出的数据代入回归分析预测方程，求解随弹贮存T时间后的橡胶密封圈残余压缩永久变形率，结合设计失效临界值给出检测结果。采用本发明检测方法，无需将橡胶密封圈从弹药产品上拆解下来，实现了随弹长期贮存的橡胶密封圈的无损检测，且检测结果准确、可靠，操作过程简单、快捷。

主权项

1.一种橡胶密封圈失效检测方法，其特征在于：所述方法包括下列步骤：步骤1：选取不少于5个用于弹药贮存的全新橡胶密封圈，采用与随弹贮存过程中相同的施压方向和压缩比进行应力加载；压缩比计算公式：P＝(h0‑h1)/h0*100％  [1]式中h0为橡胶密封圈初始高度，h1为橡胶密封圈经应力加载后达到的规定高度；步骤2：对步骤1中处于加载状态下的橡胶密封圈分别进行不同老化周期的老化试验，在不同老化周期，每次取出一个橡胶密封圈，先在标准温、湿度环境下恢复1小时，然后采用橡胶测厚仪测量橡胶密封圈高度h2，精确到0.01mm，并计算其残余压缩永久变形率y；残余压缩永久变形率计算公式：y＝{1‑(h0‑h2)/(h0‑h1)}*100％  [2]式中，h0为橡胶密封圈初始高度，h1为橡胶密封圈经应力加载后达到的规定高度；步骤3：从步骤2中经老化试验后的各个橡胶密封圈表面分别截取细薄片，单个橡胶密封圈的细薄片截取量为50mg‑150mg，精确到0.1mg，采用核磁共振交联密度仪测定细薄片表面交联密度X1，采用X射线光电子能谱仪测定细薄片表面氧元素相对原子含量X2；步骤4：基于一对多线性回归分析的数学模型，对步骤2、步骤3中各个橡胶密封圈残余压缩永久变形率y、细薄片表面交联密度X1、细薄片表面氧元素相对原子含量X2进行统计分析，建立残余压缩永久变形率回归分析预测方程式中，b0、b1、b2均为回归系数；步骤5：从已随弹贮存T时间后的橡胶密封圈表面截取细薄片，截取量50mg‑60mg，精确到0.1mg，采用核磁共振交联密度仪测定细薄片表面交联密度X1，采用X射线光电子能谱仪测定细薄片表面氧元素相对原子含量X2；步骤6：将步骤5中测定出的数据代入步骤4的回归分析预测方程式[3]中，求解出随弹贮存T时间后的橡胶密封圈残余压缩永久变形率，结合设计失效临界值ε_c，给出检测结果，若则检测结果为未失效，若则检测结果为已失效。