[发明专利]天线系统的调试方法、装置及天线系统有效

专利信息
申请号: 201810022457.0 申请日: 2018-01-10
公开(公告)号: CN108039919B 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 谢毅华 申请(专利权)人: 毕弟强
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H01Q23/00
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 陈金普
地址: 510000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种天线系统的调试方法,包括步骤:分别根据各个射频系统对应的各预定工作频段,确定各射频系统在天线辐射体上的各个馈点所处的目标位置;依次在对应于各馈点的各匹配器与相应各馈点连接后,若各匹配器的阻抗值变化,使各馈点相应射频系统的反射寄生辐射电流的相位与入射寄生辐射电流的相位反相时,则获取各匹配器的目标阻抗值。还公开一种天线系统的调试装置及一种天线系统。通过确定各个馈点在天线辐射体上的目标位置,进而调整各个匹配器的阻抗值到目标阻抗值,使得各个预定工作频段的射频系统可以在各自频段自有的谐振状态下工作,得到无双工器、可同时支持多频段信号收发的天线系统。无需配置双工器,天线设计制作成本较低。
搜索关键词: 天线 系统 调试 方法 装置
【主权项】:
1.一种天线系统的调试方法,其特征在于,包括步骤:分别根据各个射频系统对应的各预定工作频段,确定各所述射频系统在天线辐射体上的各个馈点所处的目标位置;其中,各所述馈点为各所述射频系统与所述天线辐射体的连接点;各所述目标位置为工作在对应所述预定工作频段的各所述射频系统在所述天线辐射体上的阻抗匹配位置;依次在对应于各所述馈点的各匹配器与相应各所述馈点连接后,若各所述匹配器的阻抗值变化,使各所述馈点相应所述射频系统的反射寄生辐射电流的相位与入射寄生辐射电流反相时,则获取各所述匹配器的目标阻抗值;其中,所述寄生辐射电流为各所述射频系统在工作时,从各对应所述馈点流入相应所述射频系统的辐射电流。
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