[发明专利]一种通过射频信号来校准晶体偏振的方法在审
| 申请号： | 201810008527.7 | 申请日： | 2018-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN108390732A | 公开（公告）日： | 2018-08-10 |
| 发明（设计）人： | 李双庆;张坤;冯杰 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/11 | 分类号： | H04B17/11;H04B17/21 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种通过射频信号来校准晶体频偏的方法，属于通信领域，所述方法包括：步骤S1、被测器件的射频端口通过铜管连接件连接射频线的一端，所述射频线的另一端连接无线局域网测试仪，所述无线局域网测试仪连接控制端；步骤S2、用户通过所述控制端控制所述无线局域网测试仪对所述被测器件的射频信号进行测试以得到测试结果，用户根据所述测试结果判断所述射频信号的偏差是否合格：若判断结果为是，随后退出；若判断结果为否，则所述用户对所述被测器件的晶体电路进行调节，随后转步骤S2。本发明的有益效果：不会受到探头的影响，测量更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 射频信号 无线局域网 被测器件 测试仪 判断结果 校准 射频线 晶体电路 连接控制 射频端口 通信领域 铜管连接 一端连接 控制端 探头 偏振 频偏 测量 测试 退出 | ||
【主权项】：
1.一种通过射频信号来校准晶体频偏的方法，适用于晶体电路，其特征在于，所述方法包括：步骤S1、被测器件的射频端口通过铜管连接件连接射频线的一端，所述射频线的另一端连接无线局域网测试仪；步骤S2、用户通过所述控制端控制所述无线局域网测试仪对所述被测器件的射频信号进行测试以得到测试结果，用户根据所述测试结果判断所述射频信号的偏差是否合格：若判断结果为是，随后退出；若判断结果为否，则所述用户对所述被测器件的晶体电路进行调节，随后转步骤S2。
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