[发明专利]一种计及内部材料疲劳寿命的压接式IGBT器件可靠性计算方法有效
| 申请号： | 201810008176.X | 申请日： | 2018-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN108090301B | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 李辉;邓吉利;姚然;赖伟;郑媚媚;龙海洋;何蓓;李金元;李尧圣 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G06F30/23 | 分类号： | G06F30/23;G06F30/30;G06F119/04 |
| 代理公司： | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人： | 赵荣之 |
| 地址： | 400044 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种计及内部材料疲劳寿命的压接式IGBT器件可靠性计算方法。首先，建立压接式IGBT器件的几何模型，根据压接式IGBT器件的运行工况设置有限元仿真条件；其次，通过仿真得到每层材料承受的疲劳强度，提取其疲劳属性参数，计算每层材料疲劳失效的循环次数；最后，计算器件中每层材料的疲劳寿命和故障率，建立单芯片压接式IGBT器件的可靠性计算模型，获取压接式IGBT器件故障率等可靠性指标。本发明提供一种计及内部材料疲劳寿命的压接式IGBT器件可靠性计算方法，充分考虑了压接式IGBT器件中不同材料属性寿命对器件可靠性的影响，提高了压接式IGBT器件可靠性计算准确性，可广泛用于压接式IGBT器件的可靠性设计和薄弱环节评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内部 材料 疲劳 寿命 压接式 igbt 器件 可靠性 计算方法 | ||
【主权项】：
1.一种计及内部材料疲劳寿命的压接式IGBT器件可靠性计算方法，其特征在于：该方法包含如下步骤：S1：建立压接式IGBT器件的几何模型，根据压接式IGBT器件的运行工况设置有限元仿真条件；S2：通过仿真得到各层材料承受的疲劳强度，提取各层材料的疲劳属性参数，计算各层材料疲劳失效的循环次数；S3：计算压接式IGBT器件中各层材料的疲劳寿命和故障率，建立压接式IGBT器件的可靠性计算模型，获取压接式IGBT器件的可靠性指标。
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