[发明专利]基于铁离子的分析的用于磁体扫描的系统、方法和设备在审
| 申请号： | 201780097630.7 | 申请日： | 2017-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN111447999A | 公开（公告）日： | 2020-07-24 |
| 发明（设计）人： | T·A·达拉卡玛 | 申请（专利权）人： | 安测络有限责任公司 |
| 主分类号： | B03C1/033 | 分类号： | B03C1/033;B01L3/00;B03C1/20;G01N21/64;G01N21/76;G01N33/553 |
| 代理公司： | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人： | 金辉 |
| 地址： | 美国康*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实施例包括一种用于检测存在于铁磁流体中的目标粒子的扫描装置，其中该扫描装置可以用于微流系统中。此处描述的方法和结构也包括：例如扫描装置，该扫描装置包括光学系统；位于该光学系统的第一侧上的第一磁体，第一磁体可以是不可旋转的；位于该光学系统的第二侧上的第二磁体，与第一磁体相对，第二磁体可以是可旋转的；和活动臂，其连接到第二磁体，臂能使第二磁体旋转。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 离子 分析 用于 磁体 扫描 系统 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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