[发明专利]打印头清洁元件的校准有效
| 申请号： | 201780094381.6 | 申请日： | 2017-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN111065522B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | F·塔里达蒂拉多;M·卢鹏纳瓦佐;A·米尔戈巴巴 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | B41J2/165 | 分类号： | B41J2/165 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张凌苗;陈岚 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本文中描述的某些示例涉及校准用于打印头的清洁元件。打印介质传感器与打印头的喷嘴平面对齐，以检测打印作业期间打印介质从喷嘴平面的位移。发生了清洁元件和打印头之间的相对移动。在该移动期间，检测打印介质传感器的激活。基于检测到的激活存储清洁元件的参考位置。 | ||
| 搜索关键词： | 打印头 清洁 元件 校准 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠普发展公司,有限责任合伙企业，未经惠普发展公司,有限责任合伙企业许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780094381.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：对基板作业机
- 下一篇：微粒检测元件及微粒检测器
