[发明专利]为数字测定使用横向照明的光学成像系统在审
| 申请号： | 201780087035.5 | 申请日： | 2017-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN110366677A | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | T.伊克达 | 申请（专利权）人： | 雅培日本有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/03;G01N21/51 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;申屠伟进 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 紧凑的光学成像系统，其包括单个过滤器和光源，该光源为数字测定中的珠粒检测提供横向照明。该光源被配置成朝向检测器皿发射光。该单个过滤器被定位成接收从检测器皿中的样本反射的、源自光源的光，并且接收来自检测器皿中的样本的输出。检测器被配置成接收反射光的一部分和传过单个过滤器的输出的一部分。 | ||
| 搜索关键词： | 光源 过滤器 器皿 光学成像系统 横向照明 检测 样本 检测器 接收反射光 输出 朝向检测 发射光 配置 珠粒 反射 紧凑 | ||
【主权项】：
1.一种紧凑的数字测定装置，其包括：检测器皿；光源，其被配置成朝向所述检测器皿发射光；单个过滤器，其被定位成接收从所述检测器皿中的样本反射的、源自所述光源的光，以及接收来自所述检测器皿中的样本的输出；以及检测器，其被配置成接收反射光的一部分和传过所述单个过滤器的输出的一部分。
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