[发明专利]用于基于宽度的峰迹线分析的系统、方法和装置有效

专利信息
申请号: 201780084712.8 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN110234990B 公开(公告)日: 2022-11-29
发明(设计)人: P·达斯谷普塔;A·F·卡乔;K·斯里尼瓦桑 申请(专利权)人: 德克萨斯大学系统董事会;戴安公司
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02;G01N30/38;G01N30/86
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 钱慰民;张鑫
地址: 美国得*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 教导了用于提供在时间或空间上分离的峰形响应的分析方法的系统、方法和装置,包含基于在作为定量元素的选定高度处的峰迹线的宽度测量的色谱峰定量。包含了将峰迹线处理为表示前端和后端的指数函数的组合的方法。还包含了有助于检测峰迹线输出中的杂质的方法。
搜索关键词: 用于 基于 宽度 峰迹线 分析 系统 方法 装置
【主权项】:
1.一种分析物的色谱定量方法,包括:a)将所述分析物至少以第一浓度、第二浓度、以及然后第三浓度流动到色谱柱中;b)通过使用色谱检测器检测从所述色谱柱出来的所述第一浓度、所述第二浓度和所述第三浓度下的所述分析物;c)从所述色谱检测器获得第一、第二和第三信号曲线,所述第一、第二和第三信号曲线分别表示由所述色谱检测器检测到的所述第一、第二和第三浓度下的所述分析物;d)在多个峰高处测量所述第一、第二和第三信号曲线中的每一个中的峰宽;e)基于所述第一、第二、第三浓度和针对所述多个峰高中的每一个的所述所测量的峰宽计算多个校准方程;以及f)识别提供具有最低误差的所述校准方程的所述多个峰高中的一个。
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