[发明专利]检测装置在审

专利信息
申请号: 201780084710.9 申请日: 2017-02-06
公开(公告)号: CN110226075A 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: 堀淳二;阪田恒次;桥口拓弥;望月敬太;渡边清高;笹井浩之 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;D01H13/32;G01B21/02;G01N21/892
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 马建军;邓毅
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 相位计算部(12)计算以由相似度计算部(11)计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的偏角作为第1相位。相位计算部(12)计算以由相似度计算部(11)计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的偏角作为第2相位。周期计算部(13)根据由相位计算部(12)计算出的第1相位和第2相位,计算长条体上形成的图案的周期。异常检测部(14)根据由周期计算部(13)计算出的周期检测长条体的异常。
搜索关键词: 相似度 相位计算 相似度计算 相似度向量 周期计算 长条体 偏角 异常检测部 检测装置 周期检测 图案
【主权项】:
1.一种检测装置,该检测装置具有:数据取得单元,其取得表面具有周期性图案的长条体的第1表面数据和第2表面数据;存储单元,其存储第1基准数据和第2基准数据;相似度计算单元,其计算由所述数据取得单元取得的第1表面数据与所述第1基准数据的第1相似度、由所述数据取得单元取得的第1表面数据与所述第2基准数据的第2相似度、由所述数据取得单元取得的第2表面数据与所述第1基准数据的第3相似度和由所述数据取得单元取得的第2表面数据与所述第2基准数据的第4相似度;相位计算单元,其计算以由所述相似度计算单元计算出的第1相似度和第2相似度为元素的第1相似度向量的偏角作为第1相位,计算以由所述相似度计算单元计算出的第3相似度和第4相似度为元素的第2相似度向量的偏角作为第2相位;周期计算单元,其根据由所述相位计算单元计算出的第1相位和第2相位,计算所述长条体上形成的图案的周期;以及第1异常检测单元,其根据由所述周期计算单元计算出的周期,检测所述长条体的异常。
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