[发明专利]用于检测主体中的不对称定位的内部对象的系统和方法在审
| 申请号： | 201780083488.0 | 申请日： | 2017-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN110177498A | 公开（公告）日： | 2019-08-27 |
| 发明（设计）人： | A·法格尔;M·佩尔松;H·雅各布松;R·温格 | 申请（专利权）人： | 麦德菲尔德诊断有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/05 | 分类号： | A61B5/05 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘文灿 |
| 地址： | 瑞典*** | 国省代码： | 瑞典;SE |
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| 摘要： | 本文的实施例涉及用于检测主体(103)中的内部对象(100)的系统。该系统包括至少一个天线对，所述天线对包括两个天线(105)，所述两个天线适于相对于对称线(108)围绕主体(103)对称地定位。该系统适于将微波信号发射到主体(103)中，所述微波信号从内部对象(103)反射和/或散射。该系统适于接收反射和/或散射的微波信号，并且比较在对称定位的天线(105)处接收的微波信号。当对称天线对处的接收的微波信号之间存在差异时，该系统适于检测内部对象(100)或者已检测到的内部对象(100)的变化。差异与内部对象(100)与主体(103)之间的不同的介电特性有关。 | ||
| 搜索关键词： | 微波信号 天线 检测 散射 反射 微波信号发射 对称定位 对称天线 介电特性 不对称 对称线 对称 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测主体(103)中的内部对象(100)的系统，其中，所述内部对象(100)和所述主体(103)具有不同的介电特性，其中，所述系统包括至少一个天线对，所述天线对包括两个天线(105)，所述两个天线适于相对于所述主体(103)中的对称线(108)围绕所述主体(103)对称地定位，所述系统适于：将一个微波信号或多个微波信号从所述系统中的所述天线(105)中的至少一个发射到所述主体(103)中，其中，所发射的微波信号从所述内部对象(103)反射和/或散射；在其他天线(105)和/或发射天线(105)处接收所反射的微波信号和/或所散射的微波信号，由此所述系统在已经发射之后作为接收器被操作或者所述系统在正在发射的同时作为接收器被操作；比较在对称定位的天线(105)处的所接收的微波信号；以及当对称天线对处的所接收的微波信号之间存在差异时，检测到所述内部对象(100)或已经检测到的内部对象(100)的变化，并且其中，所述差异与所述内部对象(100)与所述主体(103)之间的所述不同的介电特性有关。
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