[发明专利]设备与方法有效
| 申请号： | 201780075974.8 | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN110062894B | 公开（公告）日： | 2023-09-01 |
| 发明（设计）人： | 泽格·于斯坦 | 申请（专利权）人： | 索尼半导体解决方案公司 |
| 主分类号： | G01S17/36 | 分类号： | G01S17/36;G01S7/491 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 包括电路的设备被配置为：通过将光检测信号与相应的相移参考信号相关而获取相关信号，相关信号包括正交相关信号与同相相关信号。电路以如下的方式配置：使正交相关信号的平均获取时间与同相相关信号的平均获取时间基本相等。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种包括电路的设备，被配置为：通过将光检测信号与相应的相移参考信号相关来获取相关信号，所述相关信号包括正交相关信号和同相相关信号；其中，所述电路以如下方式配置：使所述正交相关信号的平均获取时间与所述同相相关信号的平均获取时间相等或基本相等。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索尼半导体解决方案公司，未经索尼半导体解决方案公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780075974.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于对象形状和姿态的点云诊断检验的系统和方法
- 下一篇：X射线探测器中的光导
