[发明专利]用于检查系统的同轴和漫射照明在审

专利信息
申请号: 201780061811.4 申请日: 2017-10-06
公开(公告)号: CN109891215A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: M·S·朗;T·J·马戴;D·R·约翰逊 申请(专利权)人: 哈钦森技术股份有限公司
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;H04N1/06;F21V7/04;G01N21/47;G01N21/84;G01B11/30
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 蔡洪贵
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 描述了一种检查系统。该检查系统包括相机和壳体。该壳体容纳反射罩。该反射罩包括顶点和视口。该视口从顶点偏移。相机被安装以捕获通过视口离开该反射罩的光。并且,多个光源绕着该反射罩布置,使得从多个光源输出的光进入该罩。
搜索关键词: 反射罩 检查系统 视口 相机 顶点偏移 光源输出 壳体容纳 壳体 漫射 同轴 捕获 光源
【主权项】:
1.一种检查系统,包括:相机;以及壳体,所述壳体具有:反射罩,所述反射罩包括顶点和视口,所述视口从所述顶点偏移,所述相机被安装以捕获通过所述视口离开所述反射罩的光;以及多个光源,所述多个光源绕着所述反射罩布置,使得从所述多个光源输出的光进入所述发射罩。
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