[发明专利]用于改进用于可重现粒子尺寸测量的分析方法开发和样品制备的方法和装置在审
| 申请号： | 201780053100.2 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN109641238A | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | L·马丁斯 | 申请（专利权）人： | 霍维奥尼技术有限公司 |
| 主分类号： | B06B1/02 | 分类号： | B06B1/02;G01N35/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 郭思宇 |
| 地址： | 爱尔兰*** | 国省代码： | 爱尔兰;IE |
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| 摘要： | 提供改进通过激光衍射的粒子尺寸分析的精度和重现性的方法和装置。一般通过使用将会分散粒子聚集物并允许精确测量的超声浴针对激光衍射测试准备粉末粒子。但是，聚集物分散的精度和重现性受超声探测器磨损、腐蚀和年限的影响。可以通过对超声探测器的电压调节补偿超声处理性能的差异，从而导致粒子尺寸确定的精度和重现性的明显改善。 | ||
| 搜索关键词： | 重现性 超声探测器 方法和装置 激光衍射 聚集物 粒子尺寸测量 粒子尺寸确定 超声处理 尺寸分析 电压调节 分散粒子 粉末粒子 样品制备 超声 磨损 粒子 改进 测量 重现 腐蚀 测试 分析 开发 | ||
【主权项】：
1.一种通过使用被施加到超声浴(12)中的超声探测器(6)上的验证电压来保持正确的超声处理功率的方法，包括：通过使用连接到超声探测器(6)的计量仪(11)测量由超声探测器(6)产生的实际电压；通过读取测量的实际电压将探测器(6)的电压调节到期望的电平，并且调节和设定被传送到超声探测器的电流直到基本上达到验证电压。
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