[发明专利]用于测试电子器件的装置的测试头有效
| 申请号： | 201780048925.5 | 申请日： | 2017-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN109564241B | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 达尼埃莱·佩雷戈 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073;H01R13/24;H01R13/42 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 方挺;黄谦 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文描述了一种用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针(20)，该接触探针包括探针主体(20C)，该探针主体(20C)在适于实现与相应接触垫接触的相应端部(20A，20B)之间沿纵向延伸，至少一个端部(20B)的横向尺寸大于所述探针主体(20C)并包括扩大部分(22)，该扩大部分(22)仅对应于所述接触探针(20)的第一侧壁(23a，23b)突出。适当地，所述至少一个端部(20B)还包括至少一个突起(24)，该至少一个突起(24)从与第一侧壁(23a，23b)相对的第二侧壁(23b，23a)突出并且沿接触探针(20)的纵轴(HH)从所述扩大部分(22)开始朝向第二相对壁(23a，23b)延伸。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 电子器件 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针(20)，所述接触探针包括探针主体(20C)，所述探针主体(20C)在适于实现与相应接触垫接触的相应端部(20A，20B)之间基本上沿纵向延伸，至少一个端部(20B)的横向尺寸大于所述探针主体(20C)并且包括扩大部分(22)，所述扩大部分仅对应于所述接触探针(20)的第一侧壁(23a，23b)突出，其特征在于，所述至少一个端部(20B)还包括至少一个突起(24)，所述至少一个突起从与所述第一侧壁(23a，23b)相对的第二侧壁(23b，23a)突出并且基本上沿着所述接触探针(20)的纵向轴线(HH)从所述扩大部分(22)延伸所述第二相对壁(23b，23a)。
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