[发明专利]用于分析样本的装置及方法有效
| 申请号： | 201780041245.0 | 申请日： | 2017-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN109414163B | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 史蒂文·詹姆斯·弗里斯肯 | 申请（专利权）人： | 赛莱特私人有限公司 |
| 主分类号： | A61B3/00 | 分类号： | A61B3/00;G01B9/00;G02B21/00;G02B27/00;G01N21/00;G01N33/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 梁丽超;田喜庆 |
| 地址： | 澳大利亚*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供用于使用分散结构化照明的共焦显微镜的方法与装置。在某些实施方式中，装置还包括光学相干断层扫描(OCT)系统，并且使用利用共焦显微镜系统获取的两个或多个更大区域图像的相应集合配准从样本的两个或多个区域获取的OCT图像。在优选实施方式中，装置适合用于分析眼睛的视网膜。共焦显微镜系统能够在纯强度模式或相干模式下操作。在其他实施方式中，使用分散结构化照明的共焦显微镜系统用于表面计量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 样本 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析样本的装置，所述装置包括共焦显微镜系统，所述共焦显微镜系统包括：第一光学系统，包括一个或多个用于发射第一波段内的光的光源和用于在样本的第一区域处产生以针对所述第一波段内的每个波长的小光束栅格形式的分散结构化照明场的波长分散元件；第二光学系统，用于收集来自所述分散结构化照明场的、从所述样本的所述第一区域反射或散射的光，补偿由所述波长分散元件施加的光谱分散，并使分散补偿后的所收集的光通过至少一个孔；以及光谱仪，包括二维传感器阵列，所述二维传感器阵列用于光谱地分析所收集的从所述样本的所述第一区域反射或散射的光。
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