[发明专利]用于电子器件的探针卡有效
| 申请号： | 201780037271.6 | 申请日： | 2017-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN109564242B | 公开（公告）日： | 2022-10-21 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·克里帕;斯太法罗·费利奇 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R3/00 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 方挺;侯晓艳 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明描述了一种用于电子器件的测试设备的探针卡(20)，所述探针卡包括至少一个测试头(21)以及至少一个空间变换器(28)，所述测试头具有插入到导向孔中的多个接触探针(22)，所述导向孔在至少一个上导向件(23)和至少一个下导向件(24)中实现，所述接触探针(22)的弯曲区域(26)限定在所述上导向件和下导向件(23，24)之间，所述空间变换器具有多个接触垫(28A)，每个所述接触探针(22)具有至少一个第一端子部分(21A)和至少一个第二端子部分(21B)，所述第一端子部分(21A)从所述下导向件(24)突出，具有第一长度(LA)并且以适于抵接待测器件(27)的相应接触垫(27A)的接触尖端(22A)结束，所述第二端子部分从所述上导向件(23)伸出，具有第二长度(LB)并以适于抵接所述空间变换器(28)的所述接触垫(28A)之一的接触头结束，其中所述探针卡还包括至少一个内插在所述空间变换器(28)和所述上导向件(23)之间的垫片元件(30)，所述垫片元件(30)可拆卸以通过随着测试头(21)、特别是所述上导向件(23)和所述空间变换器(28)的接近改变所述第二端子部分(21B)的第二长度(LB)来改变所述接触探针(22)的第二端子部分(21B)的第二长度(LB)从而调节所述接触探针(22)的第一端子部分(21A)的第一长度(LA)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电子器件 探针 | ||
【主权项】：
1.一种用于电子器件的测试设备的探针卡(20)，包括至少一个测试头(21)以及至少一个空间变换器(28)，所述测试头具有插入到多个导向孔中的多个接触探针(22)，所述多个导向孔在至少一个上导向件(23)和至少一个下导向件(24)中实现，所述接触探针(22)的弯曲区域(26)限定在所述上导向件(23)和所述下导向件(24)之间，所述空间变换器具有多个接触垫(28A)，每个所述接触探针(22)具有至少一个第一端子部分(21A)和至少一个第二端子部分(21B)，所述第一端子部分从所述下导向件(24)突出，具有第一长度(LA)并且以接触尖端(22A)结束，所述接触尖端适于抵接待测器件(27)的相应接触垫(27A)上，所述第二端子部分从所述上导向件(23)突出，具有第二长度(LB)并以接触头(22B)结束，所述接触头适于抵接所述空间变换器(28)的所述接触垫(28A)之一，其特征在于还包括至少一个垫片元件(30)，所述垫片元件插入在所述空间变换器(28)和所述测试头(21)的所述上导向件(23)之间，所述垫片元件(30)可拆卸以通过改变所述接触探针(22)的所述第二端子部分(21B)的所述第二长度(LB)调节所述接触探针(22)的所述第一端子部分(21A)的所述第一长度(LA)，使所述测试头(21)，特别是所述上导向件(23)，接近所述空间变换器(28)。
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