[发明专利]打光校正方法及装置有效
| 申请号： | 201780036245.1 | 申请日： | 2017-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN109643444B | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 阳光;韩琨 | 申请（专利权）人： | 深圳配天智能技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 李庆波 |
| 地址： | 518063 广东省深圳市南山区粤海街道高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种打光校正方法，该方法包括：采集检测对象在光源照射下的图像(S11)；至少利用检测对象的图像对检测对象进行定位以获取检测对象的空间位置(S12)；利用检测对象的空间位置及预先获取的光源的光场信息获取检测对象可见表面的光场分布(S13)；根据光场分布对检测对象的图像进行打光校正(S14)。还公开了一种打光校正装置。上述方式能够降低打光不均匀对图像造成的影响，使得图像与实际检测物体之间的误差减小，从而提高工业视觉检测的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 打光 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种打光校正方法，其特征在于，包括：采集检测对象在光源照射下的图像；至少利用所述检测对象的图像对所述检测对象进行定位以获取所述检测对象的空间位置；利用所述检测对象的空间位置及预先获取的所述光源的光场信息获取所述检测对象被所述光源照射表面的光场分布；根据所述光场分布对所述检测对象的图像进行打光校正。
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