[发明专利]X射线成像系统和定量成像方法及其计算单元有效

专利信息
申请号: 201780033712.5 申请日: 2017-05-31
公开(公告)号: CN109195526B 公开(公告)日: 2020-08-14
发明(设计)人: J·E·弗雷登贝里;K·E·L·贝里格伦 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;G01N23/04;G01N23/087;A61B6/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提出了对谱图像数据与非谱图像数据进行组合以便克服不同数据获取方法的限制。来自所述方法的结果优选根据空间频率进行组合,从而谱图像数据在低频率下提供高准确性,而非谱图像数据在高频率下帮助减少噪声。本发明实现了X射线成像的不同领域中的一系列应用,诸如改善的组织对比度和组织表征。
搜索关键词: 射线 成像 系统 定量 方法 及其 计算 单元
【主权项】:
1.一种用于处理定量图像数据的计算单元(C),其中,所述计算单元包括:‑接收单元(31);以及‑处理单元(33),其中,所述接收单元被配置用于接收感兴趣对象的谱图像数据;其中,所述接收单元被配置用于接收所述感兴趣对象的非谱图像数据;其中,所述处理单元被配置用于从所述谱图像数据根据位置来计算物质性质;其中,所述处理单元被配置用于从所述非谱图像数据根据位置来计算物质性质;其中,所述处理单元被配置用于通过取决于所述图像中的空间频率对所述谱图像数据和所述非谱图像数据进行加权来根据所述空间频率对从所述谱图像数据和从所述非谱图像数据计算的所述物质性质进行组合。
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