[发明专利]开口式光学谐振腔中的粒子表征有效

专利信息
申请号: 201780032362.0 申请日: 2017-05-22
公开(公告)号: CN109642866B 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 奥雷利安·特里谢;詹森·迈克尔·史密斯;克莱儿·瓦兰斯 申请(专利权)人: 牛津大学科技创新有限公司
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14;G01N21/39;B01L3/00;G02B21/32;G01N21/77
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 王小衡;王天鹏
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 使用光学腔来检测流体中的可极化粒子的特性,该光学腔包括包含流体的相对的光学反射器。通过流体将粒子引入到光学腔中。粒子可以瞬时处于腔中或被光学捕获。用光照明包含粒子的光学腔,该光激发了受粒子影响的光学腔的光模的谐振。例如,在通过谐振进行调谐的同时,导出受激发谐振的参数的测量结果。可以使用重复测量结果来导出粒子的特性的测度,该测度取决于光学腔中的粒子的运动。
搜索关键词: 开口 光学 谐振腔 中的 粒子 表征
【主权项】:
1.一种用于在流体中检测可极化粒子的特性的方法,该方法使用开口式光学腔,该开口式光学腔包括相对的光学反射器,所述相对的光学反射器在其之间包含流体,所述方法包括:通过所述流体将至少一个粒子引入到光学腔中;利用光来照明包含粒子的光学腔,所述光激发了受单个粒子影响的光学腔的光模的谐振;以及导出受激发谐振的至少一个参数的至少一个测量结果。
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