[发明专利]自由空间部分测试器有效
申请号: | 201780031365.2 | 申请日: | 2017-05-17 |
公开(公告)号: | CN109417229B | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 汤姆·豪尔;拉明·塞萨伊;本杰明·阿什;马修·福恩斯;威廉姆·佩德勒;莫森·萨兹加尔;雅各布·泰勒·瑞普 | 申请(专利权)人: | 集美塔公司 |
主分类号: | H01Q13/02 | 分类号: | H01Q13/02;H01L27/13;C23C16/50 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 张晶;赵赫 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开用于自由空间部分测试器(FSST)的方法和设备。在一个示例中,设备包括框架、第一喇叭天线、第二喇叭天线、控制器和分析器。框架具有支撑平板天线的薄膜晶体管(TFT)部分的平台。第一喇叭天线将微波能量传输到TFT部分并从TFT部分接收反射的能量。第二喇叭天线接收通过TFT部分传输的微波能量。控制器联接到TFT部分并向TFT部分提供至少一个激励或条件。分析器使用第一喇叭天线和第二喇叭天线测量TFT部分的特性。测量特性的示例包括TFT部分的测量的微波频率响应、传输响应或反射响应。在一个示例中,如果TFT部分的测量特性表明TFT部分是可接受的,则TFT部分用于集成到平板天线中。 | ||
搜索关键词: | 自由空间 部分 测试 | ||
【主权项】:
1.一种设备,包括:框架,具有支撑平板天线的薄膜晶体管(TFT)部分的平台;第一喇叭天线,用于将微波能量传输到所述TFT部分并从所述TFT部分接收反射的微波能量;第二喇叭天线,用于接收通过所述TFT部分传输的微波能量;控制器,联接到所述TFT部分,并向所述TFT部分提供至少一个激励或条件;以及分析器,使用所述第一喇叭天线和所述第二喇叭天线测量所述TFT部分的特性。
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