[发明专利]用于光信号的光学线性采样和相干检测的系统有效
| 申请号： | 201780015497.6 | 申请日： | 2017-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN108781118B | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | A·沈;J-G·普罗沃斯特 | 申请（专利权）人： | 阿尔卡特朗讯 |
| 主分类号： | H04B10/61 | 分类号： | H04B10/61 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 酆迅;程延霞 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于光信号OS的光学线性采样和相干检测的系统，包括：发射脉冲光信号SP的源和将所述脉冲光信号SP分成两个副本的光耦合器，所述脉冲光信号SP的第一副本被发送到第一光学混合回路并且所述脉冲光信号SP的第二副本被发送到第二光学混合回路，发射光信号OS的源和将输入光信号OS分成两个副本的光耦合器，所述输入光信号OS的第一副本被发送到所述第一光学混合回路，并且所述输入光信号OS的第二副本被发送到波长恢复设备WVLR，所述波长恢复设备WVLR的输出是在所述输入光信号OS的中心波长处的连续波形光信号CW，所述波长恢复设备WVL将连续波形光信号CW发送到所述第二光学混合回路，使得所述光信号OS在所述第一混合回路内被采样，并且所述连续波形光信号CW在所述第二混合回路中被采样，以及设备BDADC，包括在所述两个光学混合回路的所述输出处检测光信号的平衡光电探测器和模拟/数字转换器ADC。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 信号 光学 线性 采样 相干 检测 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于光信号OS的光学线性采样和相干检测的系统，包括：发射脉冲光信号SP的源和将所述脉冲光信号SP分成两个副本的光耦合器，所述脉冲光信号SP的第一副本被发送到第一光学混合回路并且所述脉冲光信号SP的第二副本被发送到第二光学混合回路，发射光信号OS的源和将输入光信号OS分成两个副本的光耦合器，所述输入光信号OS的第一副本被发送到所述第一光学混合回路，并且所述输入光信号OS的第二副本被发送到波长恢复设备WVLR，所述波长恢复设备WVLR的输出是在所述输入光信号OS的中心波长处的连续波形光信号CW，所述波长恢复设备WVL将所述连续波形光信号CW发送到所述第二光学混合回路，使得所述光信号OS在所述第一混合回路内被采样，并且所述连续波形光信号CW在所述第二混合回路中被采样，以及设备BDADC，包括在所述两个光学混合回路的所述输出处检测光信号的平衡光电探测器和模拟/数字转换器ADC。
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