[发明专利]分析装置在审
| 申请号： | 201780014126.6 | 申请日： | 2017-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN108738349A | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 辻丸光一郎 | 申请（专利权）人： | 达纳福股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;C12M1/00;C12Q1/68 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 龚敏;王刚 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够加热分析芯片且能够实现小型化的新的分析装置。本发明的分析装置具备：安置部，其安置分析芯片；收容室，其收容所述安置部；加热部，其对安置到所述安置部的分析芯片进行加热；以及分析部，其对安置到所述安置部的分析芯片进行分析，所述收容室在收容有所述安置部的状态下，成为安置到所述安置部的分析芯片的分析室，所述分析部配置于如下位置，即，在所述安置部收容到所述收容室的状态下，对安置到所述安置部的分析芯片进行分析的位置，所述加热部为加热板，配置于如下位置，即，在所述安置部收容到所述收容室的状态下，对安置到所述安置部的分析芯片进行加热的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 安置 分析芯片 收容室 分析装置 加热 收容 加热部 分析 分析室 加热板 配置 | ||
【主权项】：
1.一种分析装置，其特征在于，具备：安置部，其安置分析芯片；收容室，其收容所述安置部；加热部，其对安置到所述安置部的分析芯片进行加热；以及分析部，其对安置到所述安置部的分析芯片进行分析，所述收容室在收容有所述安置部的状态下，成为安置到所述安置部的分析芯片的分析室，所述分析部配置于如下位置，即，在所述安置部收容到所述收容室的状态下，对安置到所述安置部的分析芯片进行分析的位置，所述加热部为加热板，配置于如下位置，即，在所述安置部收容到所述收容室的状态下，对安置到所述安置部的分析芯片进行加热的位置。
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