[实用新型]一种集成电路编程校验系统有效
| 申请号： | 201721853467.6 | 申请日： | 2017-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN207780175U | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 王希清;潘子升;汪永法;魏建中 | 申请（专利权）人： | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址： | 310012*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种集成电路编程校验系统，所述集成电路编程校验系统包括：编程模块，用于在校验模块的控制下对被测集成电路编程；校验模块，用于在编程阶段控制编程模块对被测集成电路编程并产生第一校验信息，在校验阶段使被测集成电路基于自身编程情况计算第二校验信息，根据第一校验信息与第二校验信息是否匹配来产生校验结果。能够实现对被测集成电路的编程校验，从而提高集成电路的产品良率。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 编程 校验信息 校验系统 编程模块 校验 编程阶段 产品良率 校验结果 匹配 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路编程校验系统，其特征在于，包括：编程模块，用于在校验模块的控制下对被测集成电路编程；校验模块，用于在编程阶段控制编程模块对被测集成电路编程并产生标识编程信息的第一校验信息，在校验阶段，被测集成电路基于自身编程情况计算校验所述编程信息的第二校验信息，根据第一校验信息与第二校验信息是否匹配来产生校验结果。
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